전계방출형 주사 전자 현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM)
반도체부품, 세라믹, 금속 등 재료 및 제품의 미세구조 분석, 파단면 고장분석 등에 쓰이며 EDS를 이용하여 재료의 구성원소 분포나 정성 분석이 가능
모델명
Tescan / S8000
등록번호
NFEC-2020-04-262194
분류
광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
담당자
(정) 안희은 / (부) 김경아
운영시간
월~금요일 09:00~18:00
문의처
(전화) 055-772-2658, (이메일) core@gnu.ac.kr
위치
경상남도 진주시 진주대로 501 경상국립대학교 BNIT 28동 701호